OTSUKA大冢电子生产的RETS-100nx型迟滞测量装置，具备精准的光谱分析能力，支持多波长测量。它采用了独特的高性能多通道光谱仪，可以一次性获取大约500个波长的数据，这种数据量比其他同类产品要多很多，能帮助用户实现高精度的测量。该设备的测量范围覆盖了从0到60,000纳米的延迟值，能让用户清晰地理解延迟波长色散形状。使用OTSUKA大冢电子RETS-100nx型迟滞测量装置时，用户能轻松对超双折射薄膜进行高速、高精度的测量，也能对多层薄膜进行无损检测，无需剥离就能得到薄膜层压状态的信息。这个设备还提供轴角校正功能，即使样品没有对准，也能重复地进行精确测量。为了验证该功能的效果，我们把样品重新定位10次，对比了有无角度校正时的测量结果。结果显示，这款设备能显著缩短测量和处理时间。这款设备软件操作简单易懂，还有良好的操作性。RETS-100nx型迟滞测量装置的规格非常丰富，包括延迟、慢轴、Rth等多个测量项目。它还能提供电池间隙、预倾角等多种测量项目，适用于不同材料的分析需求。 在400至800纳米的波长范围内，用户可以使用多通道光谱仪进行检测。设备内置了100瓦卤素灯作为光源，标准测量直径为φ2mm。数据处理部分由个人电脑和显示器完成。标准舞台尺寸为100mm x 100mm（固定平台），还可以选配自动XY平台和自动倾斜旋转平台来扩展功能。