同惠电子：功率半导体为功率半导体设计检测验证

3月6日讯，同惠电子接受证券日报网记者采访时提到，公司目前研发的新品主要是为了给功率半导体在设计、检测和验证这三个环节提供支持。详细型号有这些：TH500系列主要用于高压SiC和GaN器件的测试，能把PIV参数给精准捕捉了，支持1500V和50A的能力，已经开始小批量生产；TH510系列则专门做C-V特性分析，支持1kHz到2MHz的频率范围，漏极电压能达到±3000V，主要用于来料筛查和出厂质检，这也是小批量生产阶段；TH520系列能测试到3500V和1800A，分辨率特别高，最低脉宽是10μs，带宽10MHz，把MOSFET、IGBT和SiC/GaN的静态参数都能覆盖住，马上要上市了；TH530系列能承受2500V雪崩电压和200A峰值电流，专门看器件的雪崩耐受能力和失效特性；TH540系列是热阻测试仪，能把VDS和IDS值给设定好去检测热阻；TH550系列是做晶圆KGD测试的系统；TH560系列是晶圆老化测试系统，能测4寸、6寸、8寸晶圆；TH570系列双脉冲测试仪能提供高精度动态功率测试。目前TH500、TH510和TH530都有客户验证过并拿到订单了；TH520、TH560和TH570还在验证阶段。至于这些产品怎么卖出去还要看研发进度、市场拓展还有行业需求这几个方面的情况。